Röntgenspektroskopische Elementanalyse verschiedener Substrate unter CVD-Diamantschichten / X-Ray Spectroscopic Analysis of Different Substrates Beneath CVD-Diamond CoatingS

Articles in the same Issue

1. Inhalt / Contents
2. Erfahrungen bei der Querschnittspräparation von Schichtwerkstoffen mittels FIB-Methode / Experiences in Cross Section Preparation of Layered Materials by FIB-Method
3. Heitere Metallographie/Humorous Metallography
4. Edelsteinfund in Nimonic80A / Jewels found in Nimonic 80A
5. Röntgenspektroskopische Elementanalyse verschiedener Substrate unter CVD-Diamantschichten / X-Ray Spectroscopic Analysis of Different Substrates Beneath CVD-Diamond CoatingS
6. Heitere Metallographie/Humorous Metallography
7. Silberadern in Nimonic 80A / Silver vessles in Nimonic 80A
8. Charakterisierung von Ausscheidungen und Dispersoiden in Al-Werkstoffen unter Verwendung FIB-präparierter TEM-Proben / Characterization of Precipitations and Dispersoids in Al Materials Using TEM Samples Prepared by FIB
9. Literatur-Notizen/Literature Reviews
10. The Coming of Materials Science
11. Veranstaltungskalender/Meeting Diary