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VERANSTALTUNGSKALENDER/ MEETING DIARY

Published/Copyright: November 2, 2023
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Practical Metallography
From the journal Practical Metallography Volume 40 Issue 2

Online erschienen: 2023-11-02
Erschienen im Druck: 2003-02-01

© 2023 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

Articles in the same Issue

  1. Titelei
  2. Inhalt / Contents 02/03
  3. Quantitative Fractography under Light Microscopy: A Digital Image Processing Approach / Quantitative Fraktographie mittels Lichtmikroskopie: Näherung durch digitale Bildverarbeitung
  4. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  5. Automatische Korngrößenanalyse im Sub-Mikrometer-Bereich mittels AFM-Bildauswertung / Automated Grain Size Analysis in the Sub-Micron Range with AFM Image Processing
  6. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  7. Vom REM-Querschnitt zur TEM-Probe - Neue Möglichkeiten für FIB-Probenpräparation mittels „Refill“-Technik / From SEM Cross-Section to TEM Sample - New Capabilities of FIB Sample Preparation by “Refill” Technique
  8. HEITERE METALLOGRAPHIE/HUMOROUS METALLOGRAPHY
  9. Characterisation of Triple Junction Geometry in Polycrystals by Automated Digital Image Processing / Charakterisierung der Tripelpunktgeometrie in Vielkristallen mittels automatisierter digitaler Bildverarbeitung
  10. LITERATUR-NOTIZEN/LITERATURE REVIEWS
  11. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  12. HEITERE METALLOGRAPHIE/HUMOROUS METALLOGRAPHY
  13. DISKUSSIONSFORUM/TOPIC OF DISCUSSION
  14. VERANSTALTUNGSKALENDER/ MEETING DIARY
  15. Praktische Metallographie / Practical Metallography
https://doi.org/10.1515/pm-2003-400213

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  1. Titelei
  2. Inhalt / Contents 02/03
  3. Quantitative Fractography under Light Microscopy: A Digital Image Processing Approach / Quantitative Fraktographie mittels Lichtmikroskopie: Näherung durch digitale Bildverarbeitung
  4. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  5. Automatische Korngrößenanalyse im Sub-Mikrometer-Bereich mittels AFM-Bildauswertung / Automated Grain Size Analysis in the Sub-Micron Range with AFM Image Processing
  6. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  7. Vom REM-Querschnitt zur TEM-Probe - Neue Möglichkeiten für FIB-Probenpräparation mittels „Refill“-Technik / From SEM Cross-Section to TEM Sample - New Capabilities of FIB Sample Preparation by “Refill” Technique
  8. HEITERE METALLOGRAPHIE/HUMOROUS METALLOGRAPHY
  9. Characterisation of Triple Junction Geometry in Polycrystals by Automated Digital Image Processing / Charakterisierung der Tripelpunktgeometrie in Vielkristallen mittels automatisierter digitaler Bildverarbeitung
  10. LITERATUR-NOTIZEN/LITERATURE REVIEWS
  11. MITTEILUNGEN/INFORMATION
  12. HEITERE METALLOGRAPHIE/HUMOROUS METALLOGRAPHY
  13. DISKUSSIONSFORUM/TOPIC OF DISCUSSION
  14. VERANSTALTUNGSKALENDER/ MEETING DIARY
  15. Praktische Metallographie / Practical Metallography
Downloaded on 19.4.2026 from https://www.degruyterbrill.com/document/doi/10.1515/pm-2003-400213/html
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