High Resolution X-Ray Tomography Applied in the Observation of the Micro-Structure of Materials/ Die Anwendung der hochauflösenden Röntgentomographie zur Untersuchung der Mikrostruktur von Werkstoffen

Articles in the same Issue

1. Inhalt/ Contents
2. TEM-Zielpräparation in einer Stunde - Utopie oder realistisches Ziel/ TEM Target Preparation within one Hour: Utopia or a Realistic Goal
3. Grain Boundary Contrasting on the Map of the Crystallographic Orientation Topography/ Korngrenzenkontrastierung durch kristallographisches Orientierungs-Topographie-Mapping
4. The Influence of Various Microscopic Techniques on the Quantification of Stereological Structure Parameters in Waspaloy Alloy/ Der Einfluss verschiedener mikroskopischer Techniken auf die Quantifizierung von stereologischen Strukturparametern der Waspaloy Legierung
5. High Resolution X-Ray Tomography Applied in the Observation of the Micro-Structure of Materials/ Die Anwendung der hochauflösenden Röntgentomographie zur Untersuchung der Mikrostruktur von Werkstoffen
6. Veranstaltungsankündigung/ Event Announcemert
7. Persönliches/ Personal Notes
8. Literatur-Notizen/ Literature Reviews
9. Veranstaltungskalender/ Meeting Diary