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Wissenschaftlicher Beirat/Editorial Board
Veröffentlicht/Copyright:
10. April 2025
Online erschienen: 2025-04-10
Erschienen im Druck: 2002-01-01
© 2025 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Artikel in diesem Heft
- Inhalt/Contents
- Wissenschaftlicher Beirat/Editorial Board
- Editorial
- Bildbericht zur 35. Metallographie-Tagung in Neu-Ulm vom 19. - 21. Sept. 2001 / A photo report about the 35th Metallography Symposium from Sept. 19 to 21, 2001, in Neu-Ulm
- Metallographie-Preis
- Vergleichsversuche zur quantitativen Bestimmung globularer Gefügebestandteile durch industrielle Laboratorien / Comparative Tests to Quantitatively Determine Globular Microstructural Components at Industrial-Scale Laboratories
- Influence of the Cooling Rate on the Geometric Parameters of Eutectic Silicon in AlSi7Mg Castings / Einfluss der Kühlrate auf die Geometrieparameter von eutektischem Silizium in AISi7Mg Gussteilen
- Quantitative Charakterisierung der Mikrostruktur einer Al-Si- Ge-Legierung nach isothermer Auslagerung mit und ohne Spannung / A Quantitative Characterization of the Microstructure of an Al- Si-Ge Alloy Following Isothermal Aging with and without StrESS
- Literatur-Notizen/Literature Reviews
- Mitteilung/Information
- Veranstaltungskalender/Meeting Diary
Artikel in diesem Heft
- Inhalt/Contents
- Wissenschaftlicher Beirat/Editorial Board
- Editorial
- Bildbericht zur 35. Metallographie-Tagung in Neu-Ulm vom 19. - 21. Sept. 2001 / A photo report about the 35th Metallography Symposium from Sept. 19 to 21, 2001, in Neu-Ulm
- Metallographie-Preis
- Vergleichsversuche zur quantitativen Bestimmung globularer Gefügebestandteile durch industrielle Laboratorien / Comparative Tests to Quantitatively Determine Globular Microstructural Components at Industrial-Scale Laboratories
- Influence of the Cooling Rate on the Geometric Parameters of Eutectic Silicon in AlSi7Mg Castings / Einfluss der Kühlrate auf die Geometrieparameter von eutektischem Silizium in AISi7Mg Gussteilen
- Quantitative Charakterisierung der Mikrostruktur einer Al-Si- Ge-Legierung nach isothermer Auslagerung mit und ohne Spannung / A Quantitative Characterization of the Microstructure of an Al- Si-Ge Alloy Following Isothermal Aging with and without StrESS
- Literatur-Notizen/Literature Reviews
- Mitteilung/Information
- Veranstaltungskalender/Meeting Diary
