Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop / The Preparation of Cross Sections for the Examination of Thin Layers, Interfaces, Powders and Fibres in the Transmission Electron Microscope

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1. Inhalt / Contents
2. Quantitative Gefügeanalyse von Aluminium-Silicium- Gußlegierungen / Quantitative Microstructural Analysis of Aluminium-Silicon Cast Alloys
3. Zur statistischen Signifikanz empirischer Häufigkeitsverteilungen / On the Statistical Significance of Empirical Frequency Distributions
4. Mitteilungen / Information
5. PROIMAGE - Digitale Bildarchivierung und automatische Berichterstellung
6. Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop / The Preparation of Cross Sections for the Examination of Thin Layers, Interfaces, Powders and Fibres in the Transmission Electron Microscope
7. Literatur-Notizen / Literature Reviews
8. Schadensuntersuchung / Failure Analysis
9. Defekterscheinungen an oberflächenmontierten Bauelementen / Defects in Surface Mount Interconnections
10. 100 Lehrgänge Metallographische Untersuchungsmethoden
11. Literatur-Notizen / Literature Reviews
12. Tagungskalender / Meeting Diary
13. Impressum