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Möglichkeiten und Grenzen der Rasterelektronenmikroskopie in der Mikroelektronik / Possibilities and Limitations of Scanning Electron Microscopy in Microelectronics
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Reinhard Lemme
Published/Copyright:
May 25, 2021
Online erschienen: 2021-05-25
Erschienen im Druck: 1990-11-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Articles in the same Issue
- Titelei
- Inhaltsverzeichnis / Contents
- An Electrolytic Etching/Anodizing Method for Revealing the Microstructures of Common Aluminium Alloys / Elektrolytisches Ätzen (Anodisieren) für die Gefügeentwicklung gebräuchlicher Aluminiumlegierungen
- Möglichkeiten und Grenzen der Rasterelektronenmikroskopie in der Mikroelektronik / Possibilities and Limitations of Scanning Electron Microscopy in Microelectronics
- Wear Resistance of some Dental Gold Alloys / Verschleißwiderstand einiger Gold-Dentallegierungen
- SEM Observations of Room Temperature Stress Corrosion Cracking of Austenitic Clad Metals / Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen zur Spannungsrißkorrosion austenitischer Auftragsschweißungen bei Raumtemperatur
- Zusammenhang zwischen Korngröße, Koerzitivfeldstärke und Halbzeugabmessung bei einem weichmagnetischen Sonderwerkstoff / The Relationship between Grain Size, Coercive Field Strength and the Dimensions of Semi-Finished Products in a Special Soft-Magnetic Material
- Bruch von Felsankern / Fracture of Tension Rods
- Mitteilungen / Information
- Chronik der Metallographie-Tagungen / Cronicle of the Metallographic Conventions
- Tagungskalender / Meeting Diary
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