Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams

Siegfried Baumgartl; Hans-Eugen Bühler

doi:10.1515/pm-1976-130601

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Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams

Siegfried Baumgartl and Hans-Eugen Bühler

Published/Copyright: May 18, 2021

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From the journal Practical Metallography Volume 13 Issue 6

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Baumgartl, Siegfried and Bühler, Hans-Eugen. "Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams" Practical Metallography, vol. 13, no. 6, 1976, pp. 263-288. https://doi.org/10.1515/pm-1976-130601

Baumgartl, S. & Bühler, H. (1976). Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams. Practical Metallography, 13(6), 263-288. https://doi.org/10.1515/pm-1976-130601

Baumgartl, S. and Bühler, H. (1976) Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams. Practical Metallography, Vol. 13 (Issue 6), pp. 263-288. https://doi.org/10.1515/pm-1976-130601

Baumgartl, Siegfried and Bühler, Hans-Eugen. "Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams" Practical Metallography 13, no. 6 (1976): 263-288. https://doi.org/10.1515/pm-1976-130601

Baumgartl S, Bühler H. Wege zur quantitativen Gefügeanalyse mit Hilfe von fokussierten Elektronenstrahlen / Quantitative Microstructural Analysis by Means of Focussed Electron Beams. Practical Metallography. 1976;13(6): 263-288. https://doi.org/10.1515/pm-1976-130601

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Online erschienen: 2021-05-18

Erschienen im Druck: 1976-06-01

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