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Untersuchung des Phasendiagramms Mangan-Stickstoff durch Röntgenbeugung bei hohen Temperaturen / Investigation of the Phase Diagram Mn-N by X-Ray Diffraction at High Temperatures
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Heinz Kudielka
and Hans Jürgen Grabke
Published/Copyright:
September 9, 2021
Published Online: 2021-09-09
Published in Print: 1975-08-01
© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston
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Articles in the same Issue
- Experimentelle Untersuchungen zur Plastizität von Tantaleinkristallen / Experimental Investigations of the Plasticity of Ta Single Crystals
- The Relation between Displacive Disorder, Premartensitic Instabilities and the Martensite Formation in β-Cu-Zn Alloys / Die Beziehung zwischen Unordnungszuständen, vormartensitischen Instabilitäten und Martensitbildung in β-Kupfer-Zink-Legierungen
- Struktur des Subnitrides Nb32N3 mittels Elektronenbeugung / Structure of the Subnitride Nb32N3 by Electron Diffraction
- Mischkristallhärtung von Silber- Einkristallen / Solution Hardening of Silver Single Crystals
- Anomale Kontraktionen in (Fe,Si)3(Si,Fe)1 -Gittern bei hohen Temperaturenals Folge unterschiedlicher Ordnungszustände / Anomalous Contractions in (Fe,Si)3(Si,Fe)1 Mixed Crystal Series at High Temperatures Caused by Different States of Order
- Untersuchung des Phasendiagramms Mangan-Stickstoff durch Röntgenbeugung bei hohen Temperaturen / Investigation of the Phase Diagram Mn-N by X-Ray Diffraction at High Temperatures
- Die Bildung von Karbidschutzschichten im Verbundsystem Nickel/Wolframdraht / The Formation of Carbide Protective Layers in Nickel/Tungsten Wire Composites
- Slip Band Cracking at Low Fatigue Crack Growth Rates in Two Al-Zn-Mg Alloys / Bruch entlang Gleitbändern bei niedrigen Ermüdungsrißausbreitungsgeschwindigkeiten in zwei Aluminium-Zink-Magnesium-Legierungen
- Composition of the Cubic Nitride in the System Nickel- Tantalum-Nitrogen / Die Zusammensetzung des kubischen Nitrides am System Nickel-Tantal-Stickstoff
- Zur Arbeit von B. Boltz und U. Klisa „Verfahren zur Bestimmung wahrer Breiten von Schichten aus Schliffbildern / Remarks on the Paper by B. Boltz and U. Klisa „Method for the Determination on True Layer Thickness from Micrographs“
- Stellungnahme zu dem vorausgehenden Bericht von R. Lück
- Zahlenvergleiche der durch Ultraschalltests oder andere konventionelle Prüfmethoden gewonnenen Werte zur Temperaturabhängigkeit der freien Oberflächenenergie fester Substanzen, Teil II / The Surface Energy of Solid Materials as Measured by Ultrasonic and Conventional Test Methods
- Gesellschaftsnachrichten
- Bücherschau
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