Elektronenmikroskopische Untersuchungen an mit FIB-Präparation hergestellten Grenzflächen von biologischen Materialien und Werkstoffen: erste Ergebnisse
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C. Burkhardt
Kurzfassung
Für die Untersuchung der Ultrastruktur von biologischen Zellen und Geweben ist die Elektronenmikroskopie ein wichtiges Hilfsmittel. Damit mit dieser Methode auch die Grenzfläche von biologischen Systemen und Werkstoffoberflächen gezielt untersucht werden kann, wurden in der vorliegenden Arbeit klassische Methoden der biologischen Präparation, die kritische Punkt- Trocknung und das Einbetten von kontrastierten Zellen in einem Polymer mit der Focused-Ion-Beam-Technik (FIB) kombiniert. Die Arbeiten wurden in einem Zwei-Strahl-Gerät durchgeführt, so dass die FIB-Präparation eines Querschnitts bei hoher Auflösung im Rasterelektronenmikroskop beobachtet werden kann. Es wird gezeigt, dass es möglich ist, Zellen und die Kontaktstellen der Zellen zu einem Substrat auf einer Sub-Mikrometer-Skala zu präparieren und abzubilden.
Abstract
Electron Microscopy is an important tool for ultra structure research of biological cells and tissue. To get access to the interface between biological systems and technical surfaces, we have combined classical methods of biological specimen preparation (critical point drying, embedding) with Focused Ion Beam (FIB) Technology. The work has been done in a system with two beams (electron and ion beam). So we could observe FIB milling at high resolution with the integrated scanning electron microscope. We show, that it is now possible to prepare and image single cells and contacts between a cell and a substrate at a sub micrometer scale.
Literatur/References
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© 2005, Carl Hanser Verlag, München
Artikel in diesem Heft
- Contents/Inhalt
- Inhalt / Contents
- Editorial
- Herausforderungen an die TEM-Probenpräparation
- Technical Contributions/Fachbeiträge
- Elektronenmikroskopische Untersuchungen an mit FIB-Präparation hergestellten Grenzflächen von biologischen Materialien und Werkstoffen: erste Ergebnisse
- Focused Ion Beam Preparation and EFTEM/EELS Studies on Vanadium Nitride Thin Films
- Focused Ion Beam (FIB): Applications in Micro- and Nanoanalysis in Geosciences and Applied Mineralogy
- TEM-Zielpräparation unter REM-Beobachtung mittels Zweistrahl-FIB
Artikel in diesem Heft
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- Editorial
- Herausforderungen an die TEM-Probenpräparation
- Technical Contributions/Fachbeiträge
- Elektronenmikroskopische Untersuchungen an mit FIB-Präparation hergestellten Grenzflächen von biologischen Materialien und Werkstoffen: erste Ergebnisse
- Focused Ion Beam Preparation and EFTEM/EELS Studies on Vanadium Nitride Thin Films
- Focused Ion Beam (FIB): Applications in Micro- and Nanoanalysis in Geosciences and Applied Mineralogy
- TEM-Zielpräparation unter REM-Beobachtung mittels Zweistrahl-FIB
