TY  - JOUR
UR  - https://doi.org/10.1524/teme.1948.156167.jg.81
TI  - Längen- und Dickenmessungen im Elektronenmikroskop
T3  - tm - Technisches Messen
AU  - Mahl, Hans
PY  - 1948
DO  - doi:10.1524/teme.1948.156167.jg.81
VL  - 156-167
IS  - JG
SP  - 81
EP  - 86
Y2  - 2026-05-01
ER  - 
