Article
Licensed
Unlicensed
Requires Authentication
XXXIV. Messtechnisches Symposium des AHMT
-
Peter Lehmann
Peter Lehmann studierte Physik an den Universitäten Münster und Karlsruhe und wechselte nach dem Diplom an den Fachbereich Produktionstechnik der Universität Bremen. Dort promovierte im Jahr 1994 im mit einer Dissertation über Streulichtmesstechnik zum Dr.-Ing. und erwarb 2002 mit der Habilitation die Venia Legendi für das Fach „Messtechnik“. Von 2001 bis 2008 war er bei einem industriellen Messgerätehersteller für die Forschung im Bereich der optischen Messtechnik zuständig. Seit 2008 hat er eine W3-Professur für das Fachgebiet “Messtechnik” im Fachbereich Elektrotechnik/Informatik der Universität Kassel inne.
Published/Copyright:
March 20, 2021
Online erschienen: 2021-03-20
Erschienen im Druck: 2021-05-26
© 2021 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston
You are currently not able to access this content.
You are currently not able to access this content.
Articles in the same Issue
- Frontmatter
- Editorial
- XXXIV. Messtechnisches Symposium des AHMT
- Beiträge
- Analytical model for the signal-to-noise-ratio of drift tube ion mobility spectrometers
- Influence of input data representations for time-dependent instrument recognition
- Classification of gear pitting damage using vibration measurements
- Modelling damping in piezoceramics: A comparative study
- Monte Carlo method for the reduction of measurement errors in the material parameter estimation with cavities
- Microsphere-assisted interference microscopy for resolution enhancement
- Direct-imaging DOEs for high-NA multi-spot confocal surface measurement
Articles in the same Issue
- Frontmatter
- Editorial
- XXXIV. Messtechnisches Symposium des AHMT
- Beiträge
- Analytical model for the signal-to-noise-ratio of drift tube ion mobility spectrometers
- Influence of input data representations for time-dependent instrument recognition
- Classification of gear pitting damage using vibration measurements
- Modelling damping in piezoceramics: A comparative study
- Monte Carlo method for the reduction of measurement errors in the material parameter estimation with cavities
- Microsphere-assisted interference microscopy for resolution enhancement
- Direct-imaging DOEs for high-NA multi-spot confocal surface measurement
