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%U https://doi.org/10.1515/mt-1997-397-806
%T Zwischen Profilometer und Rasterkraftmikroskop
%B 
%D 1997
%J Materials Testing
%V 39
%N 7-8
%P 292-292
%R doi:10.1515/mt-1997-397-806
%[ 2026-04-29