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Probenformänderungen von Niob-Einkristallen bei symmetrischer Wechselbeanspruchung

  • Rolf Neumann
Published/Copyright: April 20, 2021
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International Journal of Materials Research
From the journal International Journal of Materials Research Volume 66 Issue 1

Published Online: 2021-04-20
Published in Print: 1975-01-01

© 2021 by Walter de Gruyter Berlin/Boston

Articles in the same Issue

  1. Werkstoffkenngrößen und ihre Bedeutung für die Zerspanung
  2. Solidification of Lead and Lead Alloys in Continuous Drum Sheet Casting
  3. Texturen bei der primären Rekristallisation hochreiner Aluminium-Mangan-Legierungen
  4. Probenformänderungen von Niob-Einkristallen bei symmetrischer Wechselbeanspruchung
  5. Thermodynamische Untersuchungen an flüssigen Gold- Tellur-, Silber-Tellur- und Kupfer-Tellur-Legierungen
  6. Electronic Transport Properties and Superstructure in the Ternary System Silver-Magnesium-Indium
  7. Anisotropy of Boundary Migration Rate in Recrystallized Nickel Samples
  8. Entmischung in Kupfer-Nickel-Legierungen durch thermische Behandlung und durch Neutronenbestrahlung
  9. An X-Ray Investigation of Ordering in Ternary Mg 7/5 at.%-Cd-In Alloys
  10. Fließbedingung und Spannung-Formänderung-Beziehung mit ausgekehlten Flachproben
  11. Gesellschaftsnachrichten
https://doi.org/10.1515/ijmr-1975-660104

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  2. Solidification of Lead and Lead Alloys in Continuous Drum Sheet Casting
  3. Texturen bei der primären Rekristallisation hochreiner Aluminium-Mangan-Legierungen
  4. Probenformänderungen von Niob-Einkristallen bei symmetrischer Wechselbeanspruchung
  5. Thermodynamische Untersuchungen an flüssigen Gold- Tellur-, Silber-Tellur- und Kupfer-Tellur-Legierungen
  6. Electronic Transport Properties and Superstructure in the Ternary System Silver-Magnesium-Indium
  7. Anisotropy of Boundary Migration Rate in Recrystallized Nickel Samples
  8. Entmischung in Kupfer-Nickel-Legierungen durch thermische Behandlung und durch Neutronenbestrahlung
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  10. Fließbedingung und Spannung-Formänderung-Beziehung mit ausgekehlten Flachproben
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