5. Messungen an Kapazitätsdioden

Chapters in this book

1. Frontmatter 1
2. Vorwort 5
3. Inhaltsverzeichnis 7
4. 1. Einleitung 11
5. 2. Messungen an Transistoren 12
6. 3. Allgemeine Meßverfahren zur Bestimmung von Diodenkenndaten 102
7. 4. Messungen an Tunneldioden 113
8. 5. Messungen an Kapazitätsdioden 125
9. 6. Messungen an Vierschichtdioden 128
10. 7. Messungen an Thyristoren 133
11. 8. Thermische Messungen an Transistoren und Dioden 136
12. 9. Messungen an photoelektrischen Halbleitern 145
13. 10. Messungen an Halbleiterwiderständen 150
14. 11. Zuverlässigkeitsuntersuchungen an Halbleitern 166
15. Literatur 177
16. Sachverzeichnis 179
17. Backmatter 181