SEM and TEM Methods for the Quantification of Gamma-Prime Precipitates in Nickel Alloys
-
M. Speicher
Abstract
This work presents the quantitative evaluation of the gamma-prime phase for two nickel-based alloys which contain different proportions of this phase. Alloy 617 mod. was chosen here as an example for nickel alloys with a small volume fraction of the gamma-prime phase, while Alloy 263 was chosen as a material with a higher proportion. The examinations are performed in the scanning electron microscope (SEM) with high resolution as well as with a transmission electron microscope (TEM). The methods of quantitative recording are discussed. The results of the SEM and TEM analyses are compared and discussed. Several etching techniques were applied for the sample preparation.
Kurzfassung
In dieser Arbeit werden quantitative Auswertungen der Gamma-Strich-Phase für zwei Nickelbasislegierungen durchgeführt. Die beiden Werkstoffe weisen dabei unterschiedliche Anteile dieser Phase auf. Als Repräsentant der Nickellegierungen mit geringem Volumenanteil der Gamma-Strich-Phase wurde Alloy 617 mod. gewählt und als Werkstoff mit höherem Anteil Alloy 263. Die Untersuchungen werden sowohl im Rasterelektronenmikroskop (REM) mit hoher Auflösung als auch mithilfe des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) durchgeführt. Die Methoden der quantitativen Erfassung werden erörtert. Eine Gegenüberstellung der Ergebnisse von REM- und TEM-Auswertungen wird durchgeführt und diskutiert. Dabei wurden für die Probenpräparation mehrere Ätzverfahren angewandt.
References / Literatur
[1] Decker, R. F., Steel Strengthening Mechanisms Symposium, Climax Molybdenum Company (1969), 1–24Suche in Google Scholar
[2] Wlodek, S. T.; Kelly, M; Alden, D: Superalloys1996 (1996), 467–476Suche in Google Scholar
[3] Zickler, G. A.: Diplomarbeit, Montanuniversität Leoben, IfM, 2002, 6Suche in Google Scholar
[4] Donachie, M. J.; Donachie, S. J.: Superalloys, A Technical Guide, ASM International2002, 2710.31399/asm.tb.stg2.9781627082679Suche in Google Scholar
[5] Wu, Q.: Dissertation, University of Cincinnati, 2006, 100Suche in Google Scholar
[6] Speicher, M. et al.: Energy Technology4 (2016), 187–19210.1002/ente.201500311Suche in Google Scholar
[7] Brammer, J. S.; Dewey, M. A. P.: Specimen Preparation for Electron Metallography. Blackwell Scientific Publications, Oxford, 1966Suche in Google Scholar
[8] Zhao, J. C. et al.: Metallurgical and Materials Transactions A32 (2001), 1271–128210.1007/s11661-001-0217-4Suche in Google Scholar
[9] Xie, Y.; Wang, M.: Surface and Coatings Technology201 (2006), 691–69810.1016/j.surfcoat.2005.12.034Suche in Google Scholar
[10] Qin, X. Z. et al.: Metallurgical and Materials Transactions A, Vol. 38, 2007, 3014–302210.1007/s11661-007-9381-5Suche in Google Scholar
[11] Speicher, M.; Klenk, A.; Maile, K.; Roos, E.: Advanced Materials Research278 (2011), 241–24610.4028/www.scientific.net/AMR.278.241Suche in Google Scholar
[12] Suzuki, S.: JOM65 (2013), 1254–126310.1007/s11837-013-0700-6Suche in Google Scholar
© 2017, Carl Hanser Verlag, München
Artikel in diesem Heft
- Contents/Inhalt
- Contents
- Editorial
- Editorial
- Technical Contributions/Fachbeiträge
- Process-Oriented Microstructure Evolution of Vss-V3Si-V5SiB2 Materials
- SEM and TEM Methods for the Quantification of Gamma-Prime Precipitates in Nickel Alloys
- Possibilities and Limits of Color Etching According to Klemm
- Failure Analysis
- 10.3139/147.110442
- Meeting Diary/Veranstaltungskalender
- Meeting Diary
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