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tm - Technisches Messen
Heft
Lizenziert
Nicht lizenziert Erfordert eine Authentifizierung

Band 84, Heft 1 - IEEE Workshop/SENSORICA 2016 in Mülheim an der Ruhr / Jörg Himmel, Olfa Kanoun, Thomas Seeger, Klaus Thelen

tm - Technisches Messen
Heft der Zeitschrift

Inhalt
  • Öffentlich zugänglich
    Frontmatter
    7. Januar 2017
    Seiten: i-iv
  • Editorial
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    IEEE Workshop on Industrial and Medical Measurement and Sensor Technology – SENSORICA 2016
    20. Dezember 2016
    Jörg Himmel, Olfa Kanoun, Thomas Seeger, Klaus Thelen
    Seiten: 1-1
  • Beiträge
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    A metamaterial based dual-resonant coil element for combined sodium/hydrogen MRI at 7 Tesla
    24. November 2016
    Jan Taro Svejda, Andreas Rennings, Daniel Erni
    Seiten: 2-12
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Emission spectroscopy based sensor developed for engine testing
    20. Dezember 2016
    Fabian Feldhaus, Ingo Schmitz, Thomas Seeger
    Seiten: 13-22
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Molecular laser-induced breakdown spectroscopy for elemental analysis
    20. Dezember 2016
    Anne-Sophie Rother, Thomas Dietz, Peter Kohns, Georg Ankerhold
    Seiten: 23-31
  • 20. Dezember 2016
    Johannes Kiefer, Andreas Bösmann, Peter Wasserscheid
    Seiten: 32-37
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Methods to determine the scaling factor in X-ray images for exact preoperative planning in hip surgery
    20. Dezember 2016
    Oliver Gieseler, Hubert Roth, Jürgen Wahrburg
    Seiten: 38-46
  • 20. Dezember 2016
    Erwin Gerz, Matthias Mende, Hubert Roth
    Seiten: 47-52
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Telemetric multi-sensor system for medical applications – The approach
    20. Dezember 2016
    Jens Weidenmüller, Christian Walk, Özgü Dogan, Pierre Gembaczka, Alexander Stanitzki, Michael Görtz
    Seiten: 53-58
  • Erfordert eine Authentifizierung Nicht lizenziert
    Lizenziert
    Measurement and analysis of wavefront structures of diode lasers
    20. Dezember 2016
    Inga-Maria Eichentopf, Martin Reufer
    Seiten: 59-69
Heruntergeladen am 24.5.2026 von https://www.degruyterbrill.com/journal/key/teme/84/1/html?lang=de
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